Einige Beispiele
1-Der EM-Tec TV25 ist ein großer Kippprobenhalter, 0-90° variabel
kippbar,
für Probenteller oder Probenhalter bis max. Ø 38 mm. Größere
Stubs
können zwar montiert werden, behindern aber evtl. die Kippung.
Kompatibel sowohl mit Pin-Aufnahme, als auch mit Hitachi M4 Stubs
und
Haltern. Erhältlich mit Pin Stub (#12-000248)
oder M4 Gewindebohrung (#12-000348).
2-
Der TV12 Mini-Kippprobenteller ermöglicht variable 0-90° Kippung auf
einem extrem kleinen Probenhalter. Erhältlich mit Pin Stub (#12-000241)
oder M4 Gewindebohrung (#12-000347). Die Proben müssen auf die
Kippfläche geklebt werden. Eingravierte Winkelanzeigen bei
0°, 30°, 45°, 70° und 90° an der Seite des Kippteils helfen bei der
Einstellung des gewünschten Kippwinkels
3-EM-Tec H45 Halter (#12-000341), beliebter, 45° angeschrägter Halter
mit M4,
für Hitachi M4 Stubs oder Halter mit M4 Gewindebohrung.
4- EM-Tec P38 Halter ((#10-002238), 38° Schräge für FEI Pin Stubs.
Zur
Vorkippung von Probentellern um 38° für FEI Dual Beam FIB-Systeme
Mit den EM-Tec variabel kippbaren, schwenkbaren und gewinkelten Probenhalter können Proben oder Probenteller so gekippt werden, dass eine Kippung des Probentisches nicht mehr nötig ist. Die Probenhalter können je nach Version Standard Pin Stubs und/oder Hitachi Stubs aufnehmen. Die Kipphalter sind praktisch im Tabletop REM ohne eigene Kippmöglichkeit. In Standard REM vermeiden die kipp- oder schwenkbaren Probenhalter eventuelle Konflikte zwischen Probentisch und Poleschuh oder Detektoren.
Die erhältlichen EM-Tec Kipphalter sind:
:
Alle Halter sind präzisionsgefertigt aus vakuumfestem Aluminium und beinhalten Feststellschrauben und Inbusschlüssel.
Zur Nutzung der variabel kippbaren und gewinkelten Probenhalter auf JEOL REM finden Sie die JEOL Pin Stub und JEOL M4 Adapter hier: EM-Tec REM Stub-Adapter
Artikelnr. |
Art |
Kippwinkel |
Maße ohne Pin |
Stub-Aufnahme |
REM-Aufnahme |
TV12 |
0-90° |
14x14x14/20mm |
K.A. |
3.2mm Probenteller |
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TV12 |
0-90° |
14x14x14/20mm |
K.A. |
M4 Gewinde |
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TV25 |
0-90° |
35x25x10.5/29.5mm |
Pin stub / Hitachi M4 |
3.2mm Probenteller |
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TV25 |
0-90° |
35x25x10.5/29.5mm |
Hitachi M4 / Probenteller |
M4 Gewinde |
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GS10 |
-90°-0-90° |
28x16x27mm |
K.A. Klemmung |
3.2mm Probenteller |
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PS15 |
-90°-0-90° |
Ø15x15mm |
K,A .Befestigung |
3.2mm Probenteller |
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P36 |
36° (Zeiss FIB) |
Ø12.7x17mm |
3.2mm Probenteller |
3.2mm Probenteller |
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P38 |
38° (FEI FIB) |
Ø12.7x17mm |
3.2mm Probenteller |
3.2mm Probenteller |
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P45 |
45° |
Ø12.7x17mm |
3.2mm Probenteller |
3.2mm Probenteller |
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P45M |
45° |
Ø12.7x17mm |
Hitachi M4 Gewinde |
3.2mm Probenteller |
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H45P |
45° |
Ø12.7x17mm |
3.2mm Probenteller |
M4 Gewinde |
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H45 |
45° |
Ø12.7x17mm |
Hitachi M4 Gewinde |
M4 Gewinde |
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P70 |
70° EBSD |
Ø12.7x20mm |
3.2mm Probenteller |
3.2mm Probenteller |
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P70M |
70° EBSD |
Ø12.7x20mm |
Hitachi M4 Gewinde |
3.2mm Probenteller |
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H70P |
70° EBSD |
Ø12.7x20mm |
3.2mm Probenteller |
M4 Gewinde |
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H70 |
70° EBSD |
Ø12.7x20mm |
Hitachi M4 Gewinde |
M4 Gewinde |
Bestellinformationen zu EM-Tec variabel kippbaren und gewinkelten Probenhaltern für REM mit Pin Stub Aufnahme; TFS, FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica und CamScan SEMs
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