EM-Tec EDX-Checker für
EDX Systeme und Rückstreu-Elektronen-Detektoren
Einfache und schnelle Kalibrierungs- und Auflösungskontrolle von EDX-Systemen


#36-000408
EM-Tec EDX-Checker S-8 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316Lund
400/1000 mesh Ni Grids
#36-000410
EM-Tec EDX-Checker LE-10 mitBN, C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L
und 400 mesh Ni Grid

 

Einleitung

Der EM-Tec EDX-Checker ist entwickelt worden als kostengünstiges Hilfsmittel, um schnell und effektiv die Kalibrierung, Leistung und Auflösung eines EDX-Systems am REM zu prüfen oder zu bestimmen.  Regelmäßiges Prüfen mit dem EDX-Checker garantiert optimale Leistung des EDX-Detektors. Der EM-Tec EDX-Checker basiert auf einem Standard Stiftprobenteller mit Nickel TEM Grids und den ausgewählten Referenzmaterialen BN, C, PTFE, Mn, Co, Al/Cu und AISI 316L, eingebettet in die Oberfläche des Stiftprobentellers. Die Referenzmaterialien sind eingebettet in Vakuumkompatiblem Epoxidharz, end-poliert mit 0,5 Diamantpaste und beschichtet mit Kohlenstoff, um die Leitfähigkeit zu gewährleisten. Das zusätzliche BorNitrid ist nicht Kohlenstoff beschichtet.

Merkmale des EM-Tec EDX-Checkers sind:

  • Schnelle EDX Kalibrierungs- und Leistungsprüfung
  • Ideal für EDX Systeme von EDAX, Thermo, Bruker, Oxford Instruments, IXRF, Phenom und JEOL
  • Polierte Oberfläche – keine störende Einflüsse durch Höhenunterschiede
  • Erhältlich in zwei Ausführungen
  • Bekannte und konsistente Abnahmewinkel des EDX-Detektors
  • Hexagonales, weißes BN braucht keine leitfähige Kohlenstoffbeschichtung
  • Kalibrierung für niedrige Vergrößerungen und Elementverteilungsbilder
  • Kompakt und kostengünstig
  • Erhältlich als Stifprobenteller und mit Probenteller-Adaptern für JEOL und Hitachi REM

Der EM-Tec EDX-Checker ist erhältlich in drei Ausführungen:

  • EDX-Checker S-7 mit C, PTFE, Mn, Co und Al/Cu als Referenzmaterialien und 400 + 1000 mesh Ni Grids für schnelle Vergrößerungs- und für Elelementverteilungsbild-Kontrolle. Ideal für Tabletop REM mit EDS.
  • EDX-Checker S-8 mit C, PTFE, Mn, Co und Al/Cu als Referenzmaterialien, AISI 316L für Quantitative Analyse und 400 + 1000 mesh Ni Grids für schnelle Vergrößerungs- und für Elelementverteilungsbild-Kontrolle. Ideal für REM oder Tabletop REM mit EDS.
  • EDX-Checker LE-10 mit BN, C, PTFE, Mn, Co und Al/Cu als Referenzmaterialien, AISI 316L für Quantitative Analyse und 400 mesh Ni Grid für schnelle Vergrößerungs- und für Elelementverteilungsbild-Kontrolle. Optimiert um die Leistung bei der EDS Analyse von leichten Elementen zu prüfen.
EDX-Checker mit Pin in Röhrchen gelagert. EDX-Checker mit JEOL Ø25mm Adapter. EDX-Checker mit Hitachi M4 Adapter.

Anwendung der Referenzmaterialien in dem EM-Tec EDX-Checker:

Material

Verwendungszweck des Referenzmaterials

S-7

S-8

LE-10

C

EDX-Detektor Leistungsprüfung für leichte Elemente: Kohlenstoff

X

X

X

BN

EDX-Detektor Leistungsprüfung für leichte Elemente: Bor & Stickstoff

 

 

X

PTFE

EDX-Detektor Leistungsprüfung für leichte Elemente: Fluor

X

X

X

Al/Cu

EDX System Kalibrierung mit Aluminium und Kupfer Peaks

X

X

X

Mn

EDX-Detektor Auflösungskontrolle für Mn Kα Peak

X

X

X

Co

EDX-Detektor Auflösungskontrolle und Linearität

X

X

X

AISI 316L

Prüfen der Quantitative Analyse

 

X

X

400 mesh Ni

Schnelle Vergrößerungs-Kontrolle / Element-Verteilungsbilder

X

X

X

1000 mesh Ni

Schnelle Vergrößerungs-Kontrolle / Element-Verteilungsbilder

X

X

 


EM-Tec EDX-Checker S-7, EM-Tec EDX-Checker S-8, mit 316L EM-Tec EDX-Checker LE-10, mit leichten Elementen


Bestellinformationen für EM-Tec EDX-Checker S-7 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co and 400/1000 mesh Ni Grids

EM-Tec EDX-Checker S-7 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co und 400/1000 mesh Ni Grids
EM-Tec EDX-Checker S-7 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co und 400/1000 mesh Ni Grids EDX-Checker S-7 mit C, PTFE, Mn, Co und Al/Cu als Referenzmaterialien und 400 + 1000 mesh Ni Grids für schnelle Vergrößerungs- und für Elelementverteilungsbild-Kontrolle
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
36-000407-P EM-Tec EDX-Checker S-7 auf Standard Ø12.7 mm Aluminium Stiftprobenteller
Qty:

Stück €500,00
36-000407-J EM-Tec EDX-Checker S-7 mit Ø 25 x10mm JEOL Adapter für Aluminium Stiftprobenteller
Qty:

Stück €515,00
36-000407-H EM-Tec EDX-Checker S-7 mit Hitachi M4 Adapter für Aluminium Stiftprobenteller
Qty:

Stück €515,00


Bestellinformationen für EM-Tec EDX-Checker S-8 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L und 400/1000 mesh Ni Grids

EM-Tec EDX-Checker S-8 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L und 400/1000 mesh Ni Grids
EM-Tec EDX-Checker S-8 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L und 400/1000 mesh Ni Grids EDX-Checker S-8 mit C, PTFE, Mn, Co und Al/Cu als Referenzmaterialien, AISI 316L für Quantitative Analyse und 400 + 1000 mesh Ni Grids für schnelle Vergrößerungs- und für Elelementverteilungsbild-Kontrolle
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
36-000408-P EM-Tec EDX-Checker S-8 auf Standard Ø12.7 mm Aluminium Stiftprobenteller
Qty:

Stück €600,00
36-000408-J EM-Tec EDX-Checker S-8 mit Ø 25 x10mm JEOL Adapter für Aluminium Stiftprobenteller
Qty:

Stück €615,00
36-000408-H EM-Tec EDX-Checker S-8 mit Hitachi M4 Adapter für Aluminium Stiftprobenteller
Qty:

Stück €615,00


Betsellinformationen für EM-Tec EDX-Checker LE-10 mit BN, C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L und 400 mesh Ni Grid

EM-Tec EDX-Checker LE-10 mit BN, C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L und 400 mesh Ni Grid
EM-Tec EDX-Checker LE-10 mit BN, C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L und 400 mesh Ni Grid EDX-Checker LE-10 mit BN, C, PTFE, Mn, Co und Al/Cu als Referenzmaterialien, AISI 316L für Quantitative Analyse und 400 mesh Ni Grid für schnelle Vergrößerungs- und für Elelementverteilungsbild-Kontrolle.
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
36-000410-P EM-Tec EDX-Checker LE-10, Ø12.7 mm Standard Aluminium Stiftprobenteller
Qty:

Stück €710,00
36-000410-J EM-Tec EDX-Checker LE-10 mit Ø 25 x10mm JEOL Adapter für Aluminium Stiftprobenteller
Qty:

Stück €725,00
36-000410-H EM-Tec EDX-Checker LE-10 mit Hitachi M4 Adapter für Aluminium Stiftprobenteller
Qty:

Stück €725,00




REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits
  FlowView Flüssigproben-Halter

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Präzisions-Diamantsäge
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenteller
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Vakuummessung
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  ISO Vakuumflansch Teile
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Vakuumpinzetten

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit

Bedampfung Zubehör

  Therm. Verdampfungsquellen
  Bedampfungsmaterialien
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Sortier-Gewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  Digitalmikroskop
  PTFE Becher