EM-Tec EDX-Checker für EDX Systeme und Rückstreu-Elektronen-Detektoren
EM-Tec MCS Serie, Kalibrierstandards für Vergrößerungen EM-Tec REM Probentelleradapter
EM-Tec EDX-Checker für
EDX Systeme und Rückstreu-Elektronen-Detektoren
Einfache und schnelle Kalibrierungs- und Auflösungskontrolle von EDX-Systemen
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#36-000408 |
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EM-Tec EDX-Checker S-8 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316Lund 400/1000 mesh Ni Grids |
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| #36-000410 |
| EM-Tec EDX-Checker LE-10 mitBN, C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L und 400 mesh Ni Grid |
Einleitung
Der EM-Tec EDX-Checker ist entwickelt worden als kostengünstiges Hilfsmittel, um schnell und effektiv die Kalibrierung, Leistung und Auflösung eines EDX-Systems am REM zu prüfen oder zu bestimmen. Regelmäßiges Prüfen mit dem EDX-Checker garantiert optimale Leistung des EDX-Detektors. Der EM-Tec EDX-Checker basiert auf einem Standard Stiftprobenteller mit Nickel TEM Grids und den ausgewählten Referenzmaterialen BN, C, PTFE, Mn, Co, Al/Cu und AISI 316L, eingebettet in die Oberfläche des Stiftprobentellers. Die Referenzmaterialien sind eingebettet in Vakuumkompatiblem Epoxidharz, end-poliert mit 0,5 Diamantpaste und beschichtet mit Kohlenstoff, um die Leitfähigkeit zu gewährleisten. Das zusätzliche BorNitrid ist nicht Kohlenstoff beschichtet.
Merkmale des EM-Tec EDX-Checkers sind:
- Schnelle EDX Kalibrierungs- und Leistungsprüfung
- Ideal für EDX Systeme von EDAX, Thermo, Bruker, Oxford Instruments, IXRF, Phenom und JEOL
- Polierte Oberfläche – keine störende Einflüsse durch Höhenunterschiede
- Erhältlich in zwei Ausführungen
- Bekannte und konsistente Abnahmewinkel des EDX-Detektors
- Hexagonales, weißes BN braucht keine leitfähige Kohlenstoffbeschichtung
- Kalibrierung für niedrige Vergrößerungen und Elementverteilungsbilder
- Kompakt und kostengünstig
- Erhältlich als Stifprobenteller und mit Probenteller-Adaptern für JEOL und Hitachi REM
Der EM-Tec EDX-Checker ist erhältlich in drei Ausführungen:
- EDX-Checker S-7 mit C, PTFE, Mn, Co und Al/Cu als Referenzmaterialien und 400 + 1000 mesh Ni Grids für schnelle Vergrößerungs- und für Elelementverteilungsbild-Kontrolle. Ideal für Tabletop REM mit EDS.
- EDX-Checker S-8 mit C, PTFE, Mn, Co und Al/Cu als Referenzmaterialien, AISI 316L für Quantitative Analyse und 400 + 1000 mesh Ni Grids für schnelle Vergrößerungs- und für Elelementverteilungsbild-Kontrolle. Ideal für REM oder Tabletop REM mit EDS.
- EDX-Checker LE-10 mit BN, C, PTFE, Mn, Co und Al/Cu als Referenzmaterialien, AISI 316L für Quantitative Analyse und 400 mesh Ni Grid für schnelle Vergrößerungs- und für Elelementverteilungsbild-Kontrolle. Optimiert um die Leistung bei der EDS Analyse von leichten Elementen zu prüfen.
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| EDX-Checker mit Pin in Röhrchen gelagert. | EDX-Checker mit JEOL Ø25mm Adapter. | EDX-Checker mit Hitachi M4 Adapter. |
Anwendung der Referenzmaterialien in dem EM-Tec EDX-Checker:
Material |
Verwendungszweck des Referenzmaterials |
S-7 |
S-8 |
LE-10 |
C |
EDX-Detektor Leistungsprüfung für leichte Elemente: Kohlenstoff |
X |
X |
X |
BN |
EDX-Detektor Leistungsprüfung für leichte Elemente: Bor & Stickstoff |
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X |
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PTFE |
EDX-Detektor Leistungsprüfung für leichte Elemente: Fluor |
X |
X |
X |
Al/Cu |
EDX System Kalibrierung mit Aluminium und Kupfer Peaks |
X |
X |
X |
Mn |
EDX-Detektor Auflösungskontrolle für Mn Kα Peak |
X |
X |
X |
Co |
EDX-Detektor Auflösungskontrolle und Linearität |
X |
X |
X |
AISI 316L |
Prüfen der Quantitative Analyse |
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X |
X |
400 mesh Ni |
Schnelle Vergrößerungs-Kontrolle / Element-Verteilungsbilder |
X |
X |
X |
1000 mesh Ni |
Schnelle Vergrößerungs-Kontrolle / Element-Verteilungsbilder |
X |
X |
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| EM-Tec EDX-Checker S-7, | EM-Tec EDX-Checker S-8, mit 316L | EM-Tec EDX-Checker LE-10, mit leichten Elementen |
Bestellinformationen für EM-Tec EDX-Checker S-7 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co and 400/1000 mesh Ni Grids
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Bestellinformationen für EM-Tec EDX-Checker S-8 mit C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L und 400/1000 mesh Ni Grids
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Betsellinformationen für EM-Tec EDX-Checker LE-10 mit BN, C, PTFE, Mn, Al/Cu, Co, AISI 316L und 400 mesh Ni Grid
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