Übersicht Mikroskopkalibration, Test- und Referenzstandards

Kalibrationsstandards sind unverzichtbare Hilfsmittel zur Kalibrierung von Mikroskopen und Röntgenanalysesystemen. Nur kalibrierte Systeme liefern präzise Daten. Diese Übersicht zeigt die erhältlichen Kalibrationsstandards für REM, FIB-REM, TEM, EDX/WDX, LM und digitale Mikroskopiesysteme. Diese vielseitigen, präzisen und preisgünstigen Kalibrationsstandards ermöglichen optimale Kalibration Ihres Mikroskops.
 

REM - FIB - FE-REM - Tabletop REM

MCS-0.1 und MCS-1 rückverfolgbarer oder zertifizierter Vergrößerungs-Kalibrierstandards

MCS-0.1 und MCS-1 Vergrößerungs-Kalibrierstandards in X- und Y-Richtung

MTC-5 Mehrfach-Kalibrationsstandard für mittlere und geringe Vergrößerungen, rückverfolgbar

LAMC-15rückverfolgbarer, großflächiger Vergrößerungsstandard

M-1 & M-10 Kalibrationsstandard, mit 1 und 10 µm Raster, rückverfolgbar

Schachbrett-Kalibrierungsstandard

Gold auf Kohle Auflösungsstandards

Zinn auf Kohle Auflösungsstandards

REM / EDX / WDS

EDX / WDX kompakte Kalibrationsstandards

EM-Tec CXS und RSX Kalibrier- und Referenzstandards für EDX, WDX, BSE, KL und Raman

EM-Tec EDX-Checker EDX Systeme und Rückstreu-Elektronen-Detektoren

Faraday-Käfig zur Strahlstrommessung

TEM - TEM / EDX

TEM Auflösungsstandards

TEM Teststandards

TEM EDX Standards

MAG*I*CAL Kalibrierstandard

AFM-SPM

AFM Spitzentestprobe

AFM XYZ Kalibrierstandards

HOPG Standard-Substrate

KPFM und EFM Test-Probe

ALM – digitale Mikroskopie

Objektmikrometer auf Glas; linear, kreuz- und Mischmaße, optional zertifiziert

Micro-Tec Silizium-basierte Kreuzmaße; linear, kreuz- und Mischmaße, rückverfolgbar

Micro-Tec MTC-5 Mehrfach-Kalibrationsstandards, rückverfolgbar

Glas-Kalibrierobjektträger