EM-Tec LAMC-15 großflächiger Vergrößerungsstandard
ideal zur Kalibrierung niedriger Vergrößerungen und großer Flächen
       EM-Tec LAMC-15 großflächiger Vergrößerungsstandard
Einleitung

Der einzigartige EM-Tec LAMC-15 Kalibrierstandard wurde für die Kalibrierung bei niedrigen Vergrößerungen und von großen Flächen entworfen. Er besteht aus einem leitenden Siliciumsubstrat mit hellen Linien aus feinen Chromablagerungen. Er ist ideal geeignet für REM und Lichtmikroskope bei folgenden Anwendungen:

  • Kalibrierung niedriger Vergrößerungen
  • Kalibrierung bei der Vergrößerung großer Flächen
  • Messungen bei der Partikelanalyse
  • GSR Messungen
  • Linearität von Mikroskopbühnen und Reproduzierbarkeitsmessungen
  • Digitale Bildgewinnungssysteme

Der EM-Tec LAMC-15 Vergrößerungsstandard ist nützlich bei 5x bis 1000x Vergrößerung. Die Raster auf dem Vergrößerungsstandard sind:

  • Kreuzgitter von 15x15 mm mit 0,01 mm Teilungen
  • 15 mm Gitterlinien mit 0,01 mm Teilungen am den gegenüberliegenden Ende
  • Zielmarken in 0,1 mm Abstand
  • Große Zielmarken in 1 mm Abstand

Die Kreuzlinien erlauben eine einfache Navigation, den Test der Linearität und die Ermittlung deines eventuellen Nachlaufs bei (motorisierten) Mikroskopbühnen. Die aufgebrachten Chromlinien befinden sich in der gleichen Fokusebene wie das Substrat. Sie sind definierter und liefern ein besseres Signal als geätzte Raster. Sie sind auch weniger anfällig gegenüber Staubpartikeln im Raster. Jeder Kalibrierstandard hat eine einmalige Produkt-ID mit eingeätzter Seriennummer. Der Kalibrierstandard ist löse, oder montiert auf einer Auswahl verschiedener, populärer REM-Probenhalter erhältlich. Sollten Sie den Standard auf unterschiedlichen REM-Plattformen verschiedener Marken nutzen wollen, bieten wir passende EM-Tec Adapter. So kann ein einziger Standard auf Geräten von Hitachi, Zeiss, Tescan, FEI oder Jeol genutzt werden. Der EM-Tec LAMC-15 ist ein NIST rückverfolgbarer Vergrößerungsstandard.Beispiel für ein Wafer-Level-Zertifikat der Rückverfolgbarkeit, der mit jedem EM-Tec LAMC-15 mitgeliefert wird.

Spezifikationen der großflächigen EM-Tec LAMC-15 Vergrößerungsstandard


Substrat 525 µm dicker, ultraflacher Wafer mit <100> Orientierung
Leitfähigkeit  Hervorragend, 5-10 Ohm Widerstand

Muster 

Raster, Linien und Markierungen

Rastergröße

15 x 15 mm
Linien 

75 nm dicke, helle, reine Chromlinien

Unterteilungen

0,01 mm, 0,1 mm und 1,0 mm
Größe 17 x 17 mm
Anwendungen REM, Lichtmikroskope, Stereomikroskope, optische Bildgewinnungssysteme
Kennzeichnung Produkt-ID mit eingeätzter Seriennummer
Befestigung Nicht montiert oder auf verschiedenen Trägern
Lieferung

Geliefert in Gel-Pak Box



Bestellinformationen

*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
EM-Tec LAMC-15 großflächiger Vergrößerungsstandard EM-Tec LAMC-15 großflächiger Vergrößerungsstandard
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
31-T33000-U EM-Tec LAMC-15 großflächiger Vergrößerungsstandard, nicht montiert
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Stück €275,00
31-T33000-3 EM-Tec LAMC-15 großflächiger Vergrößerungsstandard, auf Ø 25,4 mm Standard Stub
Qty:

Stück €285,00
31-T33000-7 EM-Tec LAMC-15 großflächiger Vergrößerungsstandard, auf Ø 25 mm JEOL Stub
Qty:

Stück €285,00
31-T33000-9 EM-Tec LAMC-15 großflächiger Vergrößerungsstandard, auf Ø 25 mm Hitachi Stub
Qty:

Stück €285,00
31-T33000-11 EM-Tec LAMC-15 großflächiger Vergrößerungsstandard, auf schwarzem Objektträger
Qty:

Stück €285,00

 



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