EM-Tec REM-Probentischadapter
EM-Tec Halter für metallographische Schliff-Proben
EM-Tec Multi-Stiftproben-Halter
EM-Tec Zentrier-Schraubstock

EM-Tec EBSD & t-EBSD vorgekippter Probenhalter und Probenhalter-Kits

•                              
• EBSD vorgekippter Probenhalter-Kits (Pin)  |
  • EM-Tec P70 Halter 70° / 20° angeschrägt für EBSD, für Stiftprobenteller / Halter, 12,5 x 12,5 x 20 mm, Std. Pin
  • EM-Tec P70M Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, Std. Pin
  • EM-Tec P71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1 Zoll Schliffproben, Std. Pin
  • EM-Tec P79 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 40 mm / Ø 38 mm / Ø 1 1/2 Zoll Schliffproben, Std. Pin
  • EM-Tec P72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4 Zoll Schliffproben, Std. Pin
  • EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin
  • EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit für drei 20° / 70° TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin
  • EM-Tec P74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, Std. Pin
  • EM-Tec P75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-Chips / dünne Proben, Std. Pin
  • EM-Tec P76 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 4 mm, Std. Pin
  • EM-Tec P77 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 8 mm, Std. Pin
  • EM-Tec P78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16 mm, Std. Pin
  • EM-Tec P73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, Std. Pin
• EBSD vorgekippter Probenhalter-Kits (M4) 
  • EM-Tec H70P Halter 70° / 20° angeschrägt für EBSD, für Stiftprobenteller/Halter, 12,5 x 12,5 x 20 mm, M4
  • EM-Tec H70 Halter 70° / 20° angeschrägt für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, 12,5 x 12,5 x 20 mm, M4
  • EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, M4 Gewinde
  • EM-Tec H71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1 Zoll Schliffproben, M4
  • EM-Tec H79 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 40 mm / Ø 38 mm / Ø 1 1/2 Zoll Schliffproben, M4
  • EM-Tec H72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4 Zoll Schliffproben, M4
  • EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, M4 Gewinde
  • EM-Tec H74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, M4
  • EM-Tec H75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-Chips / dünne Proben, M4
  • EM-Tec H76 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 4 mm, M4
  • EM-Tec H77 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 8 mm, M4
  • EM-Tec H78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16 mm, M4
  • EM-Tec H73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, M4

Einleitung

Die EM-Tec EBSD Probenhalter sind alle 70° vorgekippt, um die EBSD-Analyse zu erleichtern. Durch den vorgegebenen 70° Winkel ist es nicht nötig, die Probenbühne zu kippen. Die Probenbühne nicht kippen zu müssen, bringt große Vorteile:

• Schnelle Probenbeladung
• Kein "Kriechen" der Probenbühne durch schwere Proben
• Keine Beeinflussung der Probenbühne auf Detektoren oder Polschuh
• Probe befindet sich automatisch im richtigen Winkel für die EBSD-Analyse

Erhältliche EM-Tec EBSD 70° vorgekippte Probenhalter sind:

• EM-Tec P70 / H70 Halter 70° vorgekippter für EBSD, für Stiftprobenteller/Halter, Std. Pin / M4
• EM-Tec P70M / H70M Halter 70° vorgekippter für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, Std. Pin / M4
• EM-Tec P71 / H71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1" Schliffproben, Std. Pin / M4
• EM-Tec P72 / H72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4" Schliffproben, Std. Pin / M4
• EM-Tec P79 / H79 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 40 mm / Ø 38 mm / Ø 1 1/2" Schliffproben, Std. Pin / M4
• EM-Tec P73 / H73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, Std. Pin / M4
• EM-Tec P74 / H74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, Std. Pin / M4
• EM-Tec P75 / H75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-chips / dünne Proben, Std. Pin / M4
• EM-Tec P76 / H76 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 4mm, Std. Pin / M4
• EM-Tec P77 / H77 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 8mm, Std. Pin / M4
• EM-Tec P78 / H78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16mm, Std. Pin / M4
• EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalter für ein TEM / FIB Lift-out Grid, Std. Pin / M4
• EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalter für drei TEM / FIB Lift-out Grid, Std. Pin / M4

Die EBSD Probenhalter-Kits kombinieren eine Reihe verfügbarer EM-Tec Halter: Halter für metallographische Schliffproben oder geologische Schliffplatten zusammen mit EBSD 70° Probenhalter, und einer 30 mm (1 1/4") Verlängerung für den benötigten Abstand. Benötigt man die Verlängerung nicht bei seiner REM Probenbühne, kann sie auch einfach entfernen werden. EM-Tec 70° vorgekippte Halter für EBSD sind mit Stiftprobenaufnahme (Pin) oder mit M4 Gewindebohrung erhältlich.
Vor Gebrauch von JEOL Adaptern sollte man überprüfen, ob die Höheneinstellung des Probentisches ausreicht oder ob man vielleicht die Pin-Version einsetzen kann

Daten, Maße und Probenhaltemethode der EBSD vorgekippter Probenhalter:

Bestellinformationen zu den kompakten EM-Tec EBSD vorgekippter Probenhalter für REM mit Pin Stub Aufnahme; FEI, Philips, Zeiss, LEO Tescan, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, and CamScan

Artikelnr.	Typ	Kippwinkel	Maße ohne Pin	Stub / Kompatibilität	Aufnahme
10-002270	EM-Tec P70	70° EBSD	12.5x12.5x20 mm	3,2 mm Stiftprobenteller	3,2 mm Std. Pin
10-002274	EM-Tec P70M	70° EBSD	12.5x12.5x20 mm	Hitachi M4 Gewinde	3,2 mm Std. Pin
12-000268	EM-Tec P71	70° EBSD	Ø34x38x29 mm	Ø25 mm / 1 “ Schliffe	3,2 mm Std. Pin
12-000269	EM-Tec P72	70° EBSD	Ø40x48x30 mm	Ø32 mm / 1-1/4” Schliffe	3,2 mm Std. Pin
12-003248	EM-Tec P79	70° EBSD	Ø48x48x30 mm	Ø40 mm / 1-1/2” Schliffe	3,2 mm Std. Pin
12-000272	EM-Tec P73	70° EBSD	52x32x25 mm	48x28 mm Schliffplatten	3,2 mm Std. Pin
12-000273	EM-Tec P74	70° EBSD	12.5x21x22 mm	FIB lift-out Grids	3,2 mm Std. Pin
12-000274	EM-Tec P75	70° EBSD	12.5x28x22 mm	Si-chips / dünne Proben	3,2 mm Std. Pin
12-003274	EM-Tec P76	70° EBSD	12.5x20x21 mm	Querschnitte 0-4 mm	3,2 mm Std. Pin
12-003278	EM-Tec P77	70° EBSD	15x23x24 mm	Querschnitte 0-8 mm	3,2 mm Std. Pin
12-003279	EM-Tec P78	70° EBSD	25x23x30 mm	0-16 mm	3,2 mm Std. Pin
12-002271	EM-Tec TE1	70°/ 20° t-EBSD	12.5x12.5x30 mm	Ø3,05 mm TEM Grid	3,2 mm Std. Pin
12-002273	EM-Tec TE3	70°/ 20° t-EBSD	12.5x12.5x30 mm	Ø3,05 mm TEM Grids	3,2 mm Std. Pin
12-000370	EM-Tec H70P	70° EBSD	12.5x12.5x20 mm	3,2 mm Stiftprobenteller	M4 Gewinde
12-000371	EM-Tec H70	70° EBSD	12.5x12.5x20 mm	Hitachi M4 Gewinde	M4 Gewinde
12-000368	EM-Tec H71	70° EBSD	Ø34x38x29 mm	Ø25 mm / 1” Schliffe	M4 Gewinde
12-000369	EM-Tec H72	70° EBSD	Ø40x48x29 mm	Ø32 mm / 1-1/2” Schliffe	M4 Gewinde
12-003348	EM-Tec H79	70° EBSD	Ø48x48x29 mm	Ø40 mm / 1-1/4” Schliffe	M4 Gewinde
12-000372	EM-Tec H73	70° EBSD	52x32x25 mm	48x28 mm Schliffplatten	M4 Gewinde
12-000373	EM-Tec H74	70° EBSD	12.5x21x22 mm	FIB lift-out Grids	M4 Gewinde
12-000374	EM-Tec H75	70° EBSD	12.5x28x22 mm	Si-chips / dünne Proben	M4 Gewinde
12-003374	EM-Tec H76	70° EBSD	12.5x20x21 mm	Querschnitte 0-4 mm	M4 Gewinde
12-003378	EM-Tec H77	70° EBSD	15x23x24 mm	Querschnitte 0-8 mm	M4 Gewinde
12-003379	EM-Tec H78	70° EBSD	25x23x30 mm	0-16 mm	M4 Gewinde
12-003271	EM-Tec TE1	70°/ 20° t-EBSD	12.5x12.5x30 mm	Ø3,05 mm TEM grid	M4 Gewinde
12-003273	EM-Tec TE3	70°/ 20° t-EBSD	12.5x12.5x30 mm	Ø3,05 mm TEM grids	M4 Gewinde

EM-Tec P70 Halter 70° / 20° angeschrägt für EBSD, für Stiftprobenteller / Halter, 12,5 x 12,5 x 20 mm, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 10-002270 Stück €44,50 Qty:

EM-Tec P70M Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 10-002274 Stück €44,50 Qty:

EM-Tec P71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1 Zoll Schliffproben, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000268 Stück €106,50 Qty:

EM-Tec P79 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 40 mm / Ø 38 mm / Ø 1 1/2 Zoll Schliffproben, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003248 Stück €129,75 Qty:

EM-Tec P72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4 Zoll Schliffproben, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000269 Stück €128,75 Qty:

EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-002271 Stück €227,50 Qty:

EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit für drei 20° / 70° TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-002273 Stück €382,50 Qty:

EM-Tec P74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000273 Stück €72,50 Qty:

EM-Tec P75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-Chips / dünne Proben, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000274 Stück €69,00 Qty:

EM-Tec P76 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 4 mm, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003274 Stück €69,00 Qty:

EM-Tec P77 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 8 mm, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003278 Stück €69,00 Qty:

EM-Tec P78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16 mm, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003279 Stück €69,00 Qty:

EM-Tec P73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000272 Each €249,50 Qty:

Ordering Information for EM-Tec EBSD sample holders with 70° pre-tilt angle for Hitachi SEMs and the versatile EM-Tec SEM stage adapters

EM-Tec H70P Halter 70° / 20° angeschrägt für EBSD, für Stiftprobenteller/Halter, 12,5 x 12,5 x 20 mm, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000370 Stück €44,50 Qty:

EM-Tec H70 Halter 70° / 20° angeschrägt für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, 12,5 x 12,5 x 20 mm, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000371 Stück €44,50 Qty:

EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, M4 Gewinde Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003271 Stück €225,50 Qty:

EM-Tec H71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1 Zoll Schliffproben, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000368 Stück €103,50 Qty:

EM-Tec H79 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 40 mm / Ø 38 mm / Ø 1 1/2 Zoll Schliffproben, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003348 Stück €127,75 Qty:

EM-Tec H72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4 Zoll Schliffproben, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000369 Stück €125,75 Qty:

EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, M4 Gewinde Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003273 Stück €380,50 Qty:

EM-Tec H74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000373 Stück €72,50 Qty:

EM-Tec H75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-Chips / dünne Proben, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000374 Stück €69,00 Qty:

EM-Tec H76 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 4 mm, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003374 Stück €69,00 Qty:

EM-Tec H77 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 8 mm, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003378 Stück €69,00 Qty:

EM-Tec H78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16 mm, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-003379 Stück €69,00 Qty:

EM-Tec H73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, M4 Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 12-000372 Stück €243,50 Qty:

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