Bei der Abbildung einer Probenoberfläche durch ein SFM-System kann es schwer zu entscheiden sein, ob die Oberfläche korrekt abgebildet wird, oder ob eine beschädigte oder stumpfe AFM-Spitze das Bild beeinflusst. Beschädigte oder stumpfe AFM-Spitzen können Messungen der Oberflächenrauheit Dimensionen dramatisch verzerren. Um sicher zu gehen, dass die AFM-Spitze in Ordnung ist, muss sie regelmäßig ausgewechselt oder im REM untersucht werden. Beides ist zeitintensiv und teuer.
Die Lösung ist die TipCheck AFM-Spitzentestprobe. Mit ihr kann der Zustand der AFM-Spitze schnell und bequem bestimmt werden. Meist reicht ein einziger Scan, um den Zustand der Spitze klar einzuschätzen. Mit der TipCheck AFM-Spitzentestprobe können verschiedene AFM-Spitzen bezüglich Spitze, Form und Schärfe verglichen und klassifiziert werden
Mit der TipCheck AFM-Spitzentestprobe können Sie auf einfache Weise herausfinden, ob die AFM-Spitze noch gut ist, Abnutzungserscheinungen zeigt oder stumpf bzw. defekt ist. Dazu ist es nicht notwendig ein ganzes Bild zu scannen oder die Spitze näher im REM zu inspizieren. Die TipCheck Testprobe arbeitet auch gut mit aktuellen, auf dem Markt befindlichen Auto-Tip-Qualification und Tip-Characterisation Software zusammen.
Vergleich zwischen unterschiedlich abgenutzten Spitzen, gemessen mit der TipCheck Probe. Scangröße ist bei allen Bildern 1x1 µm, Höhenskala ist 100 nm.
Die TipCheck AFM-Spitzentestprobe besteht aus einer völlig abriebfesten Dünnfilm-Beschichtung auf einem Silizium Chip. Der Dünnfilm hat eine granulare Nanostruktur mit scharfen Spitzen, die ideal für die spiegelbildliche Abbildung der AFM Spitze ist. Die Die-Size der TipCheck beträgt 5x5 mm. Sie ist mit elektrisch leitendem Epoxidharz auf eine 12 mm AFM Scheibe aus Metall geklebt.
Bestellangaben zu TipCheck AFM-Spitzentestproben
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