EM-Tec FIB Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller



Einleitung

Stiftprobenteller mit Vorkippung sind bei FIB/REM-Systemen nützlich, um die Probe senkrecht zur FIB-Säule zu bringen und ein gerades FIB-Abtragen in die Oberfläche der Probe zu ermöglichen. Die Vorkippungswinkel sind komplementär zu den Winkeln zwischen der FIB-Säule und der Elektronenstrahlsäule. Bei Verwendung von Vorkipp-Stiftprobenteller muss der Probentisch nicht gekippt werden. Es sind drei Typen erhältlich:

  • EM-Tec 52/38° Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller für TFS / FEI DualBeam FIB/SEM Systeme. Abmessungen ohne Stift sind Ø12,7 x 6,9 mm.
  • EM-Tec 54/36° Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller mit kurzem Stift für Zeiss CrossBeam Systeme. Abmessungen ohne Stift sind Ø12,7 x 6,9 mm.
  • EM-Tec 55/35° Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller für TESCAN FIBxSEM-Systeme. Abmessungen ohne Stift sind Ø12,7 x 6,9 mm.

Spezifikationen der EM-Tec FIB Niedrigprofil Doppel-Vorkip-Stiftprobenteller

Artikel Nr.

Winkel

FIB/REM

Art

Abmessungen ohne Stift

10-002252

52/38°

TFS / FEI DualBean

Ø12.7 mm Stiftprobenteller

Ø12.7 x 6.9 mm

10-003254

54/36°

Zeiss CrossBeam

Ø12.7 mm Stiftprobenteller

Ø12.7 x 6.9 mm

10-002255

55/35°

Tescan FIBxSEM

Ø12.7 mm Stiftprobenteller

Ø12.7 x 6.9 mm



Bestellinformationen zu EM-Tec FIB Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller

*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (52°/38°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für FEI / TFS Dualbeam, aluminium, Aluminium EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (52°/38°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für FEI / TFS Dualbeam, aluminium, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002252 Stück €6,50
Qty:

 

EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (55°/35°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Tescan FIBxSEM, aluminium EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (55°/35°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Tescan FIBxSEM, aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002255 Stück €6,50
Qty:

 

EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (54°/36°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Zeiss CrossBeam, kurzer Zeiss Stift, aluminium, Aluminium EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (54°/36°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Zeiss CrossBeam, kurzer Zeiss Stift, aluminium, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-003254 Stück €6,50
Qty:

 



REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits
  FlowView Flüssigproben-Halter

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Präzisions-Diamantsäge
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenteller
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Vakuummessung
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  ISO Vakuumflansch Teile
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Vakuumpinzetten

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit

Bedampfung Zubehör

  Therm. Verdampfungsquellen
  Bedampfungsmaterialien
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Sortier-Gewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  Digitalmikroskop
  PTFE Becher