EM-Tec Probentischadapter für
TFS/FEI /Philips REM, FE-REM und FIB-REM Systeme



Einleitung

Die EM-Tec Probentischadapter für TFS / FEI / Philips REM, FE-REM und FIB-REM Systeme REM, FE-REM, FEGSEM, DualBeam und FIB-REM Systeme sind nach den original Spezifikationen des REM-Herstellers gefertigt. Die Auswahl umfasst:

  • EM-Tec  FV Serie vielseitige Probentischadapter mit 20, 40 und 50 mm Höhe mit M6 Feingewinde und eine M4 Schraube auf der Spitze
  • EM-Tec  F Serie Ersatz- Probentischadapter mit 20, 40 und 50 mm Höhe mit M6 Feingewinde

 

EM-Tec vielseitige REM-Probentischadapter für TFS / FEI / Philips mit 20, 40 und 50 mm Höhe
Die vielseitigen EM-Tec REM-Probentischadapter für TFS/FEI/Philips REM, FE-REM, DualBeam und FIB-REM Systeme sind erhältlich mit einer Höhe von 20, 40 und 50 mm. Sie beinhalten zwei Feststellmuttern und eine Basis. Bei Bedarf sind die Komponenten auch einzeln erhältlich. Die TFS/FEI/Philips Probentischadapter beinhalten eine Schraube mit M6F Feingewinde (0,75 mm Steigung) und eine M4 Madenschraube in der Spitze. Das M4 Gewinde ist kompatibel mit allen EM-Tec M4 Probenhaltern. Um ein Festfressen zu verhindern, ist die Säule aus selbstschmierendem Messing gefertigt. Die gerändelten Feststellmuttern und die Basis sind aus vakuumfestem Aluminium hergestellt. Erhältlich als:

  • EM-Tec FV24- 20 mm hohe M6F Messingsäule mit M4 Spitze und 2 Feststellmuttern
  • EM-Tec FV44- 40 mm hohe M6F Messingsäule mit M4 Spitze und 2 Feststellmuttern
  • EM-Tec FV54- 50 mm hohe M6F Messingsäule mit M4 Spitze und 2 Feststellmuttern



Spezifikationen der EM-Tec vielseitigen Probentischadapter für TFS / FEI / Philips

Artikelnr.

Typ

Höhe

Gewinde

Topgewinde

Material

Säule

Mutter

Basis

11-000224

FV24

20mm

M6 fein

M4

Messing/Alu

V

V (x2)

-

11-000244

FV44

40mm

M6 fein

M4

Messing/Alu

V

V (x2)

V

11-000254

FV54

50mm

M6 fein

M4

Messing/Alu

V

V (x2)

V

11-000223

FV20

20mm

M6 fein

M4

Messing

V

-

-

11-000243

FV40

40mm

M6 fein

M4

Messing

V

-

-

11-000253

FV50

50mm

M6 fein

M4

Messing

V

-

-

11-000222

F22

20mm

M6 fein

-

Aluminium

-

-

V

11-000226

F26

4mm

M6 fein

-

Aluminium

-

V

-

Die vielseitigen EM-Tec Probentischadapter ermöglichen den Zugriff auf eine noch nie da gewesene Auswahl an REM-Probenhaltern, die zudem auf den Systemen aller führenden Hersteller eingesetzt werden können. Merkmale der vielseitigen EM-Tec REM-Probentischadapter sind:

  • Nutzung aller EM-Tec REM-Probenhalter mit M4 Gewinde (inkl. Hitachi Probenhaltern und Hitachi Stubs)
  • Einen REM-Probenhalter durch einfachen Austausch des Adapters auf Systemen verschiedener Hersteller einsetzen
  • Dieselbe Probe auf unterschiedlichen Systemen untersuchen
  • Spart Investitionen in Custom- und Spezialprobenhalter
  • Kostensparend für Labore mit vielen unterschiedlichen REM
  • Preiswerter Ersatz für abgenutzte original REM-Probentischadapter
  • Einen Kalibrationsstandard oder Auflösungsstandard auf unterschiedlichen REM-Systemen nutzen
  • Voll kompatibel mit fast allen TFS / FEI / Philips REM, FE-REM, FEGSEM, DualBeam und FIB-REM Systeme

 

EM-Tec Ersatz-Probentischadapter für TFS / FEI / Philips mit 20, 40 und 50 mm Höhe 
Die Ersatz-Probentischadapter für TFS / FEI REM sind erhältlich mit 20, 40 und 50 mm Höhe. Sie beinhalten zwei Feststellmuttern und eine Basis. Bei Bedarf sind die Komponenten auch einzeln erhältlich. Die TFS/FEI/Philips Probentischadapter beinhalten eine Schraube mit M6F Feingewinde (0,75 mm Steigung). Um ein Festfressen zu verhindern, ist die Säule aus selbstschmierendem Messing gefertigt. Die gerändelten Feststellmuttern und die Basis sind aus vakuumfestem Aluminium hergestellt. Alle Teile sind mit original FEI oder Philips Probentischadaptern frei tauschbar. Erhältlich in drei Höhen:

  • EM-Tec F25 mit 20 mm hohe F20 Messingsäule für große Proben
  • EM-Tec F45 mit 40 mm hohe F40 Messingsäule für Standardanwendungen
  • EM-Tec F55 mit 50 mm hone F50 Messingsäule um dünne Proben näher an den Polschuh des REM zu            bringen


Spezifikationen der EM-Tec Ersatz-Probentischadapter für TFS / FEI / Philips

Artikelnr.

Typ

Höhe

Gewinde

Material

Säule

Mutter

Basis

11-000225

F25

20mm

M6 fein

Messing/Alu

V

V (x2)

-

11-000245

F45

40mm

M6 fein

Messing/Alu

V

V (x2)

V

11-000255

F55

50mm

M6 fein

Messing/Alu

V

V (x2)

V

11-000220

F20

20mm

M6 fein

Messing

V

-

-

11-000240

F40

40mm

M6 fein

Messing

V

-

-

11-000250

F50

50mm

M6 fein

Messing

V

-

-

11-000222

F22

20mm

M6 fein

Aluminium

-

-

V

11-000226

F26

4mm

M6 fein

Aluminium

-

V

-



Bestellinformationen zu den vielseitigen EM-Tec REM-Probentischadaptern für TFS / FEI / Philips REM und DualBeam Systeme, M4 Schraube an der Oberseite

*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
EM-Tec FV24 universeller REM-Probentisch Adapter für FEI/Philips mit M4 Schraube, M6F x 20 mm EM-Tec FV24 universeller REM-Probentisch Adapter für FEI/Philips mit M4 Schraube, M6F x 20 mm
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000224 Stück €72,50
Qty:

 

EM-Tec FV44 universeller REM-Probentisch Adapter für FEI/Philips mit M4 Schraube, M6F x 40 mm EM-Tec FV44 universeller REM-Probentisch Adapter für FEI/Philips mit M4 Schraube, M6F x 40 mm
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000244 Stück €105,00
Qty:

 

EM-Tec FV54 universeller REM-Probentisch Adapter für FEI/Philips mit M4 Schraube, M6F x 50 mm EM-Tec FV54 universeller REM-Probentisch Adapter für FEI/Philips mit M4 Schraube, M6F x 50 mm
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000254 Stück €109,50
Qty:

 

EM-Tec FV20 kurze Adapterschraube REM-Probentisch, 20 mm M6F auf FEI M4 Schraube, Messing EM-Tec FV20 kurze Adapterschraube REM-Probentisch, 20 mm M6F auf FEI M4 Schraube, Messing
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000223 Stück €49,50
Qty:

 

EM-Tec FV40 standard Adapterschraube REM-Probentisch, 40 mm, M6F auf FEI M4 Schraube, Messing EM-Tec FV40 standard Adapterschraube REM-Probentisch, 40 mm, M6F auf FEI M4 Schraube, Messing
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000243 Stück €54,50
Qty:

 

EM-Tec FV50 lange Adapterschraube REM-Probentisch, 50 mm M6F auf FEI M4 Schraube, Messing EM-Tec FV50 lange Adapterschraube REM-Probentisch, 50 mm M6F auf FEI M4 Schraube, Messing
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000253 Stück €59,50
Qty:

 

FEI F22 Adapterbasis REM-Probentisch, 20 mm x M6F, Aluminium FEI F22 Adapterbasis REM-Probentisch, 20 mm x M6F, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000222 Stück €12,50
Qty:

 

FEI F26 gerändelte Adapterkontermutter REM-Probentisch, 4 mm x M6F, Aluminium FEI F26 gerändelte Adapterkontermutter REM-Probentisch, 4 mm x M6F, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000226 Stück €29,50
Qty:

 

Bestellinformationen zu den EM-Tec Ersatz-Probentischadaptern für TFS / FEI / Philips REM, FE-REM, FEGSEM, DualBeam- und FIB-REM-Systeme

*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
FEI F25 Set kurzes Adapter REM-Probentisch, inkl. 20 mm Adapterschraube und 2 Kontermuttern, M6F FEI F25 Set kurzes Adapter REM-Probentisch, inkl. 20 mm Adapterschraube und 2 Kontermuttern, M6F
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000225 Stück €72,50
Qty:

 

FEI F45 Set standard Adapter REM-Probentisch, inkl.  40 mm Adapterschraube, Basis und 2 Kontermuttern, M6F FEI F45 Set standard Adapter REM-Probentisch, inkl. 40 mm Adapterschraube, Basis und 2 Kontermuttern, M6F
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000245 Stück €105,00
Qty:

 

FEI F55 Set langer standard REM-Probentisch Adapter, inkl. 50 mm Adapterschraube, Basis und 2 Kontermuttern, M6F FEI F55 Set langer standard REM-Probentisch Adapter, inkl. 50 mm Adapterschraube, Basis und 2 Kontermuttern, M6F
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000255 Stück €109,50
Qty:

 

FEI F20 kurze Adapterschraube REM-Probentisch, 20 mm, M6F, Messing FEI F20 kurze Adapterschraube REM-Probentisch, 20 mm, M6F, Messing
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000220 Stück €49,50
Qty:

 

FEI F40 standard Adapterschraube REM-Probentisch, 40 mm, M6F, Messing FEI F40 standard Adapterschraube REM-Probentisch, 40 mm, M6F, Messing
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000240 Stück €54,50
Qty:

 

FEI F50 lange Adapterschraube REM-Probentisch, 50 mm, M6F, Messing FEI F50 lange Adapterschraube REM-Probentisch, 50 mm, M6F, Messing
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000250 Stück €59,50
Qty:

 

FEI F22 Adapterbasis REM-Probentisch, 20 mm x M6F, Aluminium FEI F22 Adapterbasis REM-Probentisch, 20 mm x M6F, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000222 Stück €12,50
Qty:

 

FEI F26 gerändelte Adapterkontermutter REM-Probentisch, 4 mm x M6F, Aluminium FEI F26 gerändelte Adapterkontermutter REM-Probentisch, 4 mm x M6F, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
11-000226 Stück €29,50
Qty:

 



REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits
  FlowView Flüssigproben-Halter

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Präzisions-Diamantsäge
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenteller
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Vakuummessung
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  ISO Vakuumflansch Teile
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Vakuumpinzetten

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit

Bedampfung Zubehör

  Therm. Verdampfungsquellen
  Bedampfungsmaterialien
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Sortier-Gewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  Digitalmikroskop
  PTFE Becher